-如何设计和认证功能安全电阻温度检测仪(RTD)系统

温度是过程控制系统的关键测量指标。人们可以直接测量,例如测量化学反应的温度,也可以补偿测量,例如通过压力传感器补偿温度。对任何系统设计来说,准确、可靠、可靠的温度测量往往很重要。对某些终端设计来说,检测系统故障很重要,如果系统出现故障,则切换到安全状态。因此,在这些环境中,必须使用功能安全设计,通过身份认证级别来表示设计的诊断复盖级别。

什么是功能安全

在功能安全设计中,系统应考虑检测所有错误。例如,炼油厂有一辆坦克在装油。液位传感器发生故障时,系统必须检测到此故障,才能积极关闭水箱阀门,防止水箱泄漏,避免潜在的危险爆炸事故。(约翰肯尼迪。)另一个场景是重复的。也就是说,设计中可以使用两级传感器,如果一级传感器发生故障,系统可以继续用另一级传感器工作。

设计通过认证后,将获得SIL等级。此等级表示设计提供的诊断服务范围。SIL级别越高,解决方案越牢固。SIL 2等级表示可以诊断系统中90%以上的错误。为了认证设计,系统设计师必须向认证机构提供潜在故障的证据——,作为安全或风险故障以及如何解决问题的证据。需要对FIT等数据和错误模式影响以及系统的多个组件进行诊断分析(FMEDA)。

温度系统设计

以下重点介绍RTD。但是温度传感器有——RTD、热敏电阻、热电偶等多种类型。设计中使用的传感器取决于所需的精度和测量的温度范围。每种传感器类型都有其独特的要求。

热电偶偏置

激励RTD激励电流

热电偶和热敏电阻绝对标准

因此,除ADC外,还需要额外的构建模块来刺激传感器和调节前端传感器。为了功能安全,所有这些模块都必须稳定可靠。此外,还必须能够检测其他模块的所有故障。通常,系统设计师使用复制方法(两个信号链)相互检查,以确保:

传感器已连接

没有开路或短路

基准电压在正确的水平上

Pga仍然正常工作

为了证明设计的坚固性,认证过程需要文档记录。这是一个耗时的过程,有时很难从IC制造商处获取特定信息。

但是,AD7124-4/AD7124-8集成模拟前端包含设计RTD所需的所有建筑模块。此外,内置的诊断功能使设计师不必为了诊断而复制信号链。除芯片增强外,ADI还提供文档记录,包括认证机构所需的所有信息(FIT pin FMEDA、原始FMEDA)。因此,功能安全认证过程得到了简化。

IEC 61508是功能安全设计的规格。此规格记录了开发SIL认证产品所需的设计过程。从概念、定义、设计、布局到制造、装配和测试,必须在每个阶段生成文档。这称为Route 1S。另一个选项是使用Route 2S进程。这是一条实际使用验证路径,如果将大量产品导入最终客户的系统,在现场使用数千小时,可以向认证机构提供以下证据对产品进行认证:

现场使用的数量

现场退货分析和退货不是部件本身的故障造成的详细说明。

安全数据手册,详细说明诊断和提供的服务范围。

针脚和裸芯片FMEDA

3线RTD设计

RTD

RTD适用于测量-200~ 850的温度,在此温度范围内几乎呈线性反应。RTD中使用的常见元素有镍、铜、钨,100、1000 RTD较为常见。RTD有2线、3线或4线格式,其中3线和4线格式更常用。RTD是需要激励电流来产生输出电压的无源传感器。RTD的输出电平取决于选择的RTD,从几十毫伏到几百毫伏不等。

RTD设计

图1显示了三线RTD系统。AD7124-4/AD7124-8是用于测量RTD的集成解决方案,其中包含系统所需的所有建筑模块。为了完全优化该系统,需要两个理想匹配的电流源。这两个电流源用于抵消RL1产生的引线电阻误差。激励电流通过精密参考电阻RREF和RTD流动。另一电流通过簧片电阻RL2流动,产生的电压与RL1的压降抵消。精密基准电阻产生的电压用作ADC的基准电压REFIN1()。由于仅使用一个激励电流就产生基准电压和RTD的电压,因此该电流源的精度、不一致和不一致移动对ADC整体转换函数影响不大。使用AD7124-4/AD7124-8,用户可以选择激励电流值,调整系统以使用ADC的大部分输入范围,并提高性能。

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图1.3线路RTD温度系统

RTD的低水平输出电压需要放大,以利用ADC的大部分输入范围。AD7124-4/AD7124-8的PGA可以设置1到128之间的增益,使用户可以在激励电流值和增益与性能之间进行选择。为了消除锯齿和EMC,传感器和ADC之间需要过滤器。基准电压缓冲区支持无限滤波器R、C分量值。也就是说,这些分量不影响测量精度。

系统还需要校准以消除增益和不平衡误差。图1显示了该三线B级RTD进行内部0级和全范围校正后的测量温度误差,总误差大大小于1。

ADC要求

测温系统以低速测量为主(最高速度一般每秒采样100次),因此需要低带宽ADC。但是,这个ADC必须是高分辨率的。-型ADC适用于这些应用,因为可以使用-结构开发低带宽高分辨率ADC。

使用-转换器时,模拟输入连续采样的采样频率比大象频段高得多。另外,利用噪声整形将噪声推到大象频段之外,进入转换过程中未使用的区域,进一步降低大象频段内的噪声。数字滤波器会衰减目标频段之外的所有信号。

数字滤波器被镜像到采样频率和采样频率的倍数,因此需要一些外部抗锯齿滤波器。但是,由于过度采样,简单的一阶RC滤波器足以满足大多数应用程序要求。-体系结构使24位ADC能够获得最高21.7位的最大分辨率(21.7个稳定或无闪烁的位)。-体系结构的其他优点包括:

宽共模范围的模拟输入

输入大范围的标准

基于费率的配置支持功能

滤波(50Hz/60Hz抑制)

除上述噪声抑制外,数字滤波器还用于提供50Hz/60Hz抑制。如果系统使用主电源,则会发生50Hz或60Hz干扰。交流电源产生50Hz及其倍数(欧洲)和60Hz及其倍数的噪音。低带宽ADC主要使用sinc滤波器将陷阱频率设置为50Hz和/或60Hz及其倍数,以抑制50Hz/60Hz及其倍数。现在,越来越需要使用部署时间短的过滤方法提供50Hz/60Hz抑制。在多通道系统中,ADC按顺序处理所有可能的通道,从而在每个通道上生成转换结果。选择通道后,需要过滤器生成时间才能生成有效的转换结果。通过缩短生成时间,可以增加在指定时间内转换的通道数。AD7124-4/AD7124-8的后过滤器或FIR过滤器提供50Hz/60Hz的同时抑制,生成时间比sinc3或sinc4过滤器短。图3显示了数字滤波器选项。也就是说,以后的设置时间为41.53毫秒,并提供62dB的50Hz/60Hz同步抑制。

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图2。频率响应,后置过滤器,25sps: (a) DC到600Hz,(b) 40Hz到70Hz。

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图3。每个通道的单独配置

:对于

诊断

功能安全设计,必须诊断构成RTD系统的所有功能。AD7124-4/AD7124-8具有多种嵌入式诊断功能,可简化设计复杂性并缩短设计时间。此外,不需要复制信号链来实现诊断覆盖。

一般诊断要求如下:

电源/基准电压/模拟输入监控

开路检查

转换/校正检查

信号链功能检查

监视读/写

寄存器内容监控

下面详细说明了内置诊断功能。

SPI诊断

AD7124-4/AD7124-8提供了CRC。启用后,所有读写操作都将包括CRC计算。校验和为8位宽,使用以下多项式生成:

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因此,对于AD7124-4/AD7124-8中的每个写入操作,处理器都会生成一个CRC值,该值将添加到发送到ADC的信息中。ADC根据收到的信息生成自己的CRC值,并与处理器收到的CRC值进行比较。如果两个值匹配,信息将保持不变,并写入相关片寄存器。如果CRC值不匹配,则表示传输过程中出现位损坏。在这种情况下,AD7124-4/AD7124-8设置了指示数据损坏的错误标志。损坏的信息不会记录在寄存器中,因此可以自我保护。同样,从AD7124-4/AD7124-8读取信息时,将生成CRC值以及该信息。处理器处理该CRC值,以确定传输是否有效或是否发生损坏。

AD7124-4/AD7124-8数据手册列出了客户可以访问的寄存器(用户寄存器)。AD7124-4/AD7124-8检查访问的注册表的地址。如果用户尝试读取或写入数据手册中未列出的寄存器,则会设置错误标志,指示处理器正在尝试访问非用户寄存器。同样,与此寄存器一起访问的所有信息也不适用于寄存器。

AD7124-4/AD7124-8还具有SCLK计数器。所有读写操作都是8的倍数。如果1669104410776595.png用于允许读/写帧,则SCLK计数器计算每个读/写操作使用的SCLK脉冲数,1669104415796408.png为低电平。1669104424149734.png成为高评价时,用于通信的SCLK数必须是8的倍数。如果SCLK中出现VER,则SCLK脉冲可能会过多。在这种情况下,AD7124-4/AD7124-8会再次设置错误标志,并忽略输入的信息。

状态寄存器表示正在转换的通道。读取数据寄存器时,可以将状态位添加到转换结果中。这将进一步提高处理器/ADC通信的健壮性。

上述所有诊断功能都是为了确保ADC和处理器之间的通信顺利进行,只有有效信息才能被AD7124-4/AD7124-8接受。如果可以使用1669104380370798.png读取和写入帧,则每次上传1669104388807156.png时都会重置串行接口。这将在定义的状态或已知状态下启动所有通信。

:每当

存储器检查

芯片内的寄存器发生变化(例如增益变化)时,对寄存器执行CRC,生成的CRC值临时存储在内部。AD7124-4/AD7124-8在内部对寄存器定期执行其他CRC检查。生成的CRC值将与存储的值进行比较。如果值因位反转而不同,则处理器将被标记为寄存器设置已损坏。处理器随后可以重置ADC并重新加载寄存器。

片上ROM存储寄存器的默认值。开机或重置后,ROM内容将应用于用户寄存器。最终生产测试计算ROM内容的CRC,并将生成的CRC值存储在ROM中。打开或重置电源后,将再次对ROM内容执行CRC,并将生成的CRC值与存储的值进行比较。如果两者不同,则默认寄存器设置与预期不同,必须重新启动或重置。

信号链检查

设备包括许多信号链检查。您可以将电源滑轨(AVDD、AVSS和IOVDD)应用于ADC输入,以监控电源滑轨。AD7124-4/AD7124-8具有一个模拟和一个数字低压降(LDO)电压调节器。这也适用于ADC,并且可以监控。AD7124-4/AD7124-8包括x-way多路复用。此外,AVSS可以在内部用作AIN-,因此可以确定模拟输入针的绝对电压。客户可以检测输出激励电流的针脚,并检测AIN和AIN针脚。这将检查连接,并确保每个针脚的电压处于正确的水平。

对于基准电压检查,基准电压检测功能表示基准电压过低的情况。客户还可以选择内部基准电压作为模拟输入,因此,当基准电阻两端的电压略高于2.5V(内部基准电压的范围)时,可以用于监视外部基准电阻产生的电压。

AD7124-4/AD7124-8还具有内置20mV电压,有助于确定增益水平。例如,如果使用20mV作为模拟输入,增益将从1到2,4,可以更改为128。每次增加增益时,变换结果都会放大一倍,以确认增益水平正常工作。

X-way多路复用在检查锁定位时也很有用。允许AIN和AIN-pin交换,从而反转转换结果。因此,在使用20mV和X路多路复用时,可以检查锁定位。

对于AIN和AIN-选择相同的模拟输入针,并偏移此内部段,以检查ADC噪音并验证其是否在指定范围内工作。在内部,您可以选择内置基准电压(2.5V)作为ADC输入。同样,应用VREF和-VREF可以确保信号链正常工作。

可编程断路测试电流可用于检查传感器连接。PT100在-200时电阻的典型值为18,在850时电阻为390.4。开路测试电流后,可以进行转换。如果RTD短路,转换结果将接近于0。在AIN和AIN之间打开时,转换结果接近0xFFFFFF。如果RTD连接正确,则无法获得接近0或全部1的代码。

最后,AD7124-4/AD7124-8具有超压和体压检测功能。正在转换的AIN和AIN-pin的绝对电压通过比较器持续监控。AIN或AIN的电压超过电源导轨(AVDD和AVSS)时,将设置标志。

这种高度整合可减少进行测量和提供诊断复盖所需的材料清单(BOM),缩短设计时间并降低设计复杂性。

:还将监控

转换/校准

AD7124-4/AD7124-8的过渡。(AIN-AIN)/如果增益大于正完整范围或小于负完整范围,则会标记。ADC转换结果将更改为全部1(模拟输入过高)或全部0(模拟输入过低),因此客户知道出现了故障。

监控调制器的比特流,确保调制器不饱和。如果发生饱和(调制器连续输出1个或0个20个),则设置标志。

AD7124-4/AD7124-8包括内部偏移和校正以及系统偏移和增益校正。如果校准失败,将设置通知用户的标志。如果校准失败,偏移和增益寄存器不会更新。

:除了

电源

前面介绍的电源检查外,AD7124-4/AD7124-8还具有持续监视内部LDO电压调节器的比较器。因此,如果这些LDO电压调节器的电压低于跳跃点,则会立即报告错误。

这些LDO调节器需要外部电容器。还可以检查是否有电容。

MCLK计数器

滤波曲线和输出数据速率与MCLK直接相关。如果主时钟为614.4kHz,则数据手册中列出的输出数据速度是正确的。如果主时钟改变频率,输出数据速度和过滤器陷阱频率也会改变。例如,使用过滤器陷印频率抑制50Hz或60Hz可以减少不断变化的时钟所能得到的衰减。因此,了解时钟频率对确保最佳抑制至关重要。AD7124-4/AD7124-8包括一个MCLK计数器寄存器。每次计算131个MCLK周期时,寄存器都会加1。测量MCLK频率需要处理器上的计时器。您可以从时间0读取寄存器,然后在计时器超时后重新读取。通过这些信息,可以确定主时钟的频率。

各通道独立配置

AD7124-4/AD7124-8可以按通道配置。换句话说,设备支持8种不同的设置。一个由基准电压源、增益设置、输出数据速率和滤波器类型组成。用户在配置通道时,可以将8个设置中的一个指定给该通道。通道可以是模拟输入通道,也可以是测量电源(AVDD-AVSS)等诊断通道。因此,客户可以设计由模拟输入和诊断组成的序列。通过每个通道的独立配置,可以以不同于模拟输入转换的输出数据速率运行诊断。诊断不需要与主要测量相同的准确性,因此客户可以将诊断与测量错开,并以较高的输出数据速率运行诊断。这些嵌入式功能有助于减少处理器工作量。

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图4。为通道指定设置

其他功能

AD7124-4/AD7124-8包括用于监控芯片温度的温度传感器。这两台设备的ESD额定均为4kV,支持坚固的解决方案。这些部件由55毫米LFCSP封装组成,适用于本质上安全的设计。

根据IEC 61508,使用这些设备的典型温度应用FMEDA表明,安全实际效率(SFF)大于90%。通常需要两个现有的ADC才能达到此级别。

内置诊断的其他好处

诊断除了降低材料清单和成本外,还可以在其他方面降低成本,包括防止设计复杂性、减少资源使用和缩短客户产品上市时间。参考以下事例理解。

AD7124-4/AD7124-8有一个MCLK计数器,用于测量默认时钟频率并捕获提供的默认时钟不一致。主时钟计数器是每131 MCLK周期增加一次的8位寄存器。此寄存器由SPI主机读取,以确定内部/外部614.4 kHz时钟的频率。

如果需要在AD7124-4/AD7124-8外部实施MCLK频率检查,该怎么办?这需要以下硬件资源:

带有计数器和外部中断控制器等外围设备的微控制器

施密特触发电路

此外,存储和执行代码(包括中断服务例程)需要存储。总之,实施方案如图5所示。

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图5。用单片机实现的MCLK频率监视器。

此外,还必须确保代码经过检查,并且符合编码准则和限制。总之,实施单独的诊断部分会产生大量的开销。因此,内置诊断具有多种优点,包括:

节省空间和材料表

提高系统可靠性减少部件数量=提高可靠性

缩短产品上市时间

软件开发——诊断程序的开发与执行

硬件测试

系统测试

微控制器存储节约

运行诊断不需要代码

编码指南需要进行大量的双重内存代码检查

通过现成的安全文档缩短系统评估时间

助力功能安全设计

ad 7124-4/ad 7124-8没有按照IEC 61508标准的开发指南设计和开发,因此没有SIL评级。但是,通过了解各种诊断的最终应用和使用情况,可以评估AD7124-4/AD7124-8是否适合SIL级别的设计。

功能安全术语

回顾认证过程中的一些重要概念。

失败:系统和随机性

诊断范围

硬件容错

Sil等级

故障:系统性和随机性

系统错误是由于特定原因引起的确定性(不是随机的)障碍,可以通过修改设计或制造过程、操作程序、文档或其他相关因素来消除。例如,外部中断针脚上缺少过滤器,高噪音导致系统中断。

随机故障是由作用于系统内硬件组件的物理原因引起的。这种故障是由腐蚀、热应力、磨损等效应引起的,无法通过系统的过程发现。

为了处理随机故障,可以使用可靠性、诊断、冗余等方法。

可靠性方面,使用可靠的部件,并通过诊断检测和解决这些故障。保证可靠性的另一种方法是增加冗余,以减少故障概率,但这样会增加系统成本和空间。

随机故障有四种类型:安全检测、安全检测不到、危险检测和危险检测不到。

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图6。随机错误类型

例如,考虑一个具有安全功能的系统,该系统在温度读数高时切断机器的电源开关。不影响安全功能(即电源开关断开)的随机故障称为安全检测故障或安全检测不到故障。影响安全功能的其他障碍是危险障碍。实际上重要的是没有检测到危险的故障。这些故障是诊断未应用的故障,ADI的目标是增加诊断范围,以最大限度地减少风险和未检测到的故障。

诊断覆盖率

随机故障可以通过软件或硬件形式的各种内置检测机制检测到。例如,MOSFET开关错误可以通过重新读取输出来检测,随机内存位反转可以通过定期运行CRC内存检查来检测。

诊断覆盖率衡量了系统检测危险障碍的能力,在数学上定义为危险检测障碍和危险障碍的比率。

:考虑

硬件容错

图7所示的可编程逻辑控制器(PLC)系统。如图7所示,安全功能是在输入超过特定值时拦截开关,从而停止系统。HFT=0图中的单个随机故障(X)会导致系统故障,并且系统不会停止。

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图7。PLC系统

现在,如果有HFT=1图中所示的冗馀路径,则单个随机故障不再导致故障,系统可以停止。

因此,系统可以通过添加冗馀路径来容忍单个故障。此系统称为HFT 1系统,表示错误不会导致系统故障。HFT 0表示故障可能会导致系统故障。硬件容错是指在发生一个或多个危险故障时,组件或子系统执行安全功能的能力。

HFT可以在1oo1、1oo2、2oo3等架构上计算。如果模式显示为MooN,则HFT表达式为N-M。也就是说,2oo4体系结构的HFT为2。这意味着可以容忍两个故障并继续工作,因此是冗馀体系结构。

SIL等级覆盖率

表1显示了SFF(即诊断覆盖率)和硬件容错(意味着冗余)。行表示诊断覆盖率,列表示硬件容错。HFT为0表示如果系统出现一个故障,安全功能就会丧失(见表1)。

表1.SIL等级覆盖率

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如图7所示,为了实现HFT 1而增加冗余可以使系统在不停机的情况下容忍故障。目前通过冗馀达到SIL 3等级的客户使用诊断范围更高的部件时,无需冗馀即可达到SIL 3。

因此,更高级别的诊断可以减少所需的系统冗馀量,或从相同的冗馀量提高解决方案的SIL级别(在表1中下移)。

现在,让我们看一下AD7124-4/AD7124-8的诊断功能,该功能支持多种内置机制,包括电源/基准电压/AIN监控、开路检测、转换/校准检查、信号链功能检查、读/写监控、寄存器内容监控等。如果没有这些诊断,则需要两个ADC才能达到同一水平。

因此,AD7124-4或AD7124-8可以提供相同级别的复盖范围,诊断范围和功能支持设计功能安全的系统。这样可以节省50%的BOM和印刷电路板空间。

支持SIL等级设计的文档

辅助终端系统SIL认证所需的文档如下:

安全数据手册(安全手册用于SIL等级部件)

针脚FMEDA(错误模式、影响和分析)和FMEDA(错误模式、影响和诊断分析)

附录f核对表

这些文档主要由来自四个数据源的输入组成,如图8所示。这些数据是诊断数据、设计数据、FIT比率和错误插入测试的数据。

数据手册中的诊断数据包括部件增强的所有诊断特性。

设计数据表示内部数据——(例如,物理区域和部件中每个内部模块的影响)。

数据手册列出了各种组件的FIT比率(故障率)。一个典型的例子是西门子Databook SN 29500。

不能使用设计和诊断数据进行分析的模块必须执行错误插入测试。这些测试是根据应用程序要求计划的,错误插入测试的结果用于加强FMEDA和FMEA文件。

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图8。功能安全文档信息流

AD7124-4/AD7124-8 FMEDA分析应用原理图中的主要模块,识别故障模式和影响,并检查特定安全功能的诊断和分析。下面通过图9了解该机制。

对于RTD型系统,安全功能是以X度的精度测量温度。应用原理图,如图9所示。

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图9。RTD应用程序结构

将风险故障定义为可能导致ADC输出或SPI通信出错的故障,如果输出中出现严重错误,则可能导致风险故障。

安全状态定义如下:

根据安全功能,输出数据表示输入

错误状态位置已存在

Adc输出转换结果为全部0或全部1

没有SPI通信

根据IEC 61508,AD7124-4/AD7124-8被确认为B类系统。为了说明FMEDA,以时钟模块为例分析了错误模式。

表2显示了时钟模块面对第一列中所述的错误模式时会发生什么,对输出的影响,诊断覆盖范围,最后是分析。

表2.主时钟模块故障模式、影响、诊断和分析

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同样,分析AD7124-4/AD7124-8中的其馀模块。

可能存在一些不影响安全功能的障碍。例如,如果AIN0针脚出现故障,温度测量不会出现问题,因此可以从安全计算中排除。

FMEDA的结果将作为安全障碍、风险检测障碍和风险检测失败失败率用于SFF计算。

引脚FMEDA

针FMEDA分析AD7124-4/AD7124-8针的各种故障以及在此RTD应用程序中的结果。选择每个针脚,逐步分析针脚打开、电源/接地短或相邻针脚短时可能出现的结果。

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图10.32针LFCSP针脚组态

例如,以图10的针脚29 (DIN)为例,参照图9所示的应用原理图来确定各种失败的结果。表3显示了错误模式、影响和测试。

表3.引脚DIN的故障模式、影响和分析

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分析是针对图9所示的应用原理图进行的,因此不影响不使用针脚的分析。

附录F 检查清单

为防止系统故障而采取的ASIC设计措施列表。法规遵从性需要完整的IEC 61508-2:2010附录F核对表。

安全手册或数据手册

全套信息最终进入安全手册或数据手册,为广告7124-4/广告7124-8整合提供了必要的要求。

如果显示符合IEC 61508功能安全标准,安全数据手册将构成各种文档的所有诊断和分析。这包括以下所有信息:

产品概述

关于应用程序

安全理念

终身预测

Fit

Fm EDA计算——SFF和DC

硬件安全机制

诊断说明

Emc的坚固性

使用冗馀配置

附件和文档列表

Route 2S,也称为“经过使用证明”

是第一种评价方法。现在讨论另一种方法:“使用证明”或“Route 2S”。此方法适用于已发行的零件,并以客户退货的分析和送货数量为基础。这样,部件就可以通过SIL认证,就像完全按照IEC61508标准开发一样。如果模块/系统设计师过去成功使用了特定的IC,并且知道现场故障率,则可以声称这是“使用验证”。

Route 2S需要完整的现场退货数据,因此对于集成电路设计师或制造商来说,提出这些主张要困难得多,因为他们不太了解最终应用程序或完整的现场故障设备收集、故障分析过程和数据。

结论

RTD测量系统对ADC和系统的要求非常苛刻。这些传感器产生的模拟信号很小。这些信号必须放大到增益水平,放大器的噪音必须非常低,以免传感器的信号被锁定。放大镜后面需要高分辨率ADC,以便将传感器的低水平信号转换为数字信息。除了ADC和增益水平外,温度系统还需要其他组件,如激励电流。同样,这些元件必须是低噪音元件,而不降低系统精度。初始精度误差(如不平衡)可以通过校准从系统中消除,但为了避免出现误差,温度沿其移动的分量必须非常低。集成激励模块和测量模块简化了客户设计。为了功能安全而设计时,还需要诊断。将诊断与激励和测量模块集成可以简化整体系统设计、减少物料清单、缩短设计时间和加速产品发布。

文件(例如FMEDA)包含客户认证最终设计的零件所需的所有资讯。但是对零部件本身的认证可以进一步简化与认证机构的交流。通过Route 2S过程,您可以在发布后对产品进行身份认证。这是一个有用的方法,因为现在上市的很多部件都适合功能安全设计。

了解更多

ADI功能安全网站

相关数据——RTD测量(CN0383)

句子:如何选择和设计理想的RTD温度检测系统

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关于ADI公司

analog devices,Inc. (Nasdaq: ADI)在现代数字经济的中心发挥着重要作用,通过多种模拟和混合信号、电源管理、RF、数字和检测技术,ADI将实际现象转化为行动的有意义洞察,面向世界各地12.5万名客户。ADI的总部设在马萨诸塞州威明顿。

关于作者

Mary McCarthy是ADI的应用工程师。她于1991年加入ADI,在爱尔兰科克市的线性和精密技术应用部工作,主要关注精密-转换器。她1991年毕业于科克大学,获得了电子和电气工程学士学位。

Wasim Shaikh于2015年加入ADI,在精密转换器部门担任应用工程师,在印度班加罗尔工作。Wasim是2003年获得富钠大学学士学位的认证功能安全工程师。

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